अमूर्त

Test Pattern Generator (TPG) for Low Power Logic Built In Self Test (BIST )

Sabir Hussain K Padma Priya

This research article proposed a logic BIST using linear feedback shift register (LFSR) to generate low power test patterns; It reduced the number of transitions at the input of the circuit-under-test using bit swapping technique. The designed architecture is programmed using Verilog HDL and simulated using CADENCE EDA Tool of 180 nm technology and also proposed design gives better performance in term of power dissipation as compared to standard LFSR.

जर्नल हाइलाइट्स

अंकीय संकेत प्रक्रिया अतुल्यकालिक संकलन अधोचालकसंचालन अनुकूली संकेत संकेत अलग नेटवर्किंग आर्टिफ़िशियल क्लिनिक और इलेक्ट्रिकल में इलेक्ट्रिक ड्राइवर और उत्पाद इलेक्ट्रॉनिक सामग्री इलेक्ट्रॉनिक्स में आर्टिफिशियल ब्यूरो उपग्रह संचार एपीसैन निदान एवं संवेदन प्रणाली नियंत्रण सिद्धांत और सिद्धांत पावर इलेक्ट्रॉनिक कन्वर्टर्स का विश्लेषण बायो इलेक्ट्रॉनिक्स बिजली की गुणवत्ता और आपूर्ति की लागत के आर्थिक मूल्यांकन बेसिक इलेक्ट्रिकल इंजीनियरिंग भार एवं विद्युत पावर प्लांट की विद्युत एवं औषधि उपयोगिताएँ विद्युतचुंबकीय क्षणिक कार्यक्रम (ईएमआई) विद्युतीकरण

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